涂层测厚详情

首页涂层测厚测量原理

测量原理

朗博-比尔定理

用不同厚度水膜测量红外吸收光谱，可以表示出同物质膜厚度的差异。下图为膜厚度不同的水膜红外吸收光谱。

朗博比尔定理如下：

$I=KI_{0}e^{-\alpha t}$

I是吸收后的光强 Io是吸收前的光强

t为膜厚

K是校正系数，补正吸收之外的其它因素引起的损耗

α为材料吸收系数，随波长和材料种类改变

该公式描述了某物质在吸收特定波长光谱的能力，通过公式变换，我们可以得到：

$\left\{\begin{matrix} I(\lambda M)=KI_{0}e^{-\alpha(\lambda M) t} \\ I(\lambda R)=KI_{0}e^{-\alpha(\lambda R) t} \end{matrix}\right. \\ t=\frac{1}{\alpha(\lambda M)-\alpha(\lambda R)}ln\frac{I(\lambda M)}{I(\lambda R)} \\Abs=lg\frac{I(\lambda M)}{I(\lambda R)} \\t=K\cdot Abs$